| Marque | Agar Scientific |
| Produit | S1987VT |
| Description | Auflösungstestobject Au auf C 2-30nm,7mmx7mmx130, Substr. |
| Code intérieur | IMP524318 |
| Poids | 1 |
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Rem-HöchstauflösungstestObjekt auf 12,5mm Stiftprobenteller
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SEM à haute résolution TestObject Sn / C à 12,5 mm plateau échantillon
Auflösungstestobject Au auf C 3-50nm,7mmx7mmx130, Substr.
Zinn-auf Kohle TestObject,10-100nm,7mmx7mmx130, C-Subs.
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Exemple de test
Exemple de test
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Pt/Au BSE Referenzobject
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Planotec GSR-und Partikel-analyse -Kalibrierkit
Leitfähige Haftaufkleber
Aufbewahrungsschrank avec 5 Schubladen
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Multi-Probenhalter für 29 Stiftprobenteller
Zinn-auf -Kohle Testobjekt, auf 12,5mm -Stiftprobenteller
70nm Pas de référence standard monté sur la plaque d'échantillonnage de broche
Longueur de l'objet d'essai avec une période de 300nm à la plaque d'échantillonnage
Support universel de finition 25mm diam. 45 Standards + cage Faraday
Biology - terminé - support avec 18 standards, diam 25 mm.
Support de finition pour semi-conducteurs 21 standards, 25 mm diam.
PLANOTEC GSR - et l'analyse syntaxique Praktikal, kit d'étalonnage
plaque d'échantillon - pince à épiler pour 9.5mm à 19mm
plaque d'échantillon - pince à épiler 6,5 mm à 9,5 mm
plaque d'échantillon - pince à épiler pour 3,2 mm à 4,7 mm